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电声产品测试

发布时间:2014-10-17作者:李小昌来源:浏览次数:3588
  • 产品详细
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    APx Electro-Acoustic电声测试可作为APx500研发(APX-SW-SPK-RD)和生产(APX-SW-SPK-PT)版的配套软件

    测量值
    • 阻抗/Thiele-Small小信号参数特征(仅APX-SW-SPK-RD版)
    • 扬声器生产测试
    • Rub & Buzz异音检测
    • 瀑布图和极线图(仅APX-SW-SPK-RD版)
    • 漏气检测
    • 其他声学测量  


     

    APx500 阻抗/Thiele-Small小信号参数测试项目


     


    APx 阻抗/Thiele-Small测量可获取在试扬声器的复杂阻抗,传递适合的机电参数,该参数决定扬声器驱动器的低频性能,从而允许集成音频产品的设计者们专注于使用单一仪器设计集成产品。 
     
    Thiele-Small结果准确描述扬声器与外壳间的互动,且对于扬声器系统设计与生产测试都起到重要作用。一旦系统设计完成,测量出的任何与Thiele-Small预期结果的偏差,都能快速识别生产或部件质量中的瑕疵。
     
    APx Thiele/Small支持已知质量(Known Mass)、已知量(Known Volume)和新增质量(Added Mass)三种方法。Added Mass和Known Volumes方法使用双程测试得出准确参数,而Known Mass单程即可得出完整的Thiele/Small特征。



    APx扬声器的频响快速测试测试,适合生产线,测试时间只需要 1 秒,可同时测试十几种参数。


     


    APx 扬声器生产测试选项为所有扬声器主要性能优点的多参数检查提供便捷服务。有了单程1秒扫描,APx扬声器生产测试选项将选中的Thiele-Small参数与预期结果相比较,以确保驱动器和外壳的整体性,并同步检查Rub & Buzz瑕疵、极性、相对电平、相位、失真产品率和失真产品电平。


    • 黄金单元对比
    • Rub & Buzz检测
    • 使用一秒扫描完成评估


    APx结合AP自动化、项目分享及完善的音频电子测试,是所有集成音频设备可用的真正综合性生产测试平台


    APx Rub & Buzz


     
    APx Rub & Buzz能够寻找线性调频脉冲音驱动下以高峰值系数及高峰比率为特点的瑕疵。这些瑕疵包括未对准的音圈、音圈间隙中质点、悬挂元素对框架粘附不完全等问题。在这些情况下的产物本身就十分短暂,虽然难以使用FFT等标准技术进行探测,但人耳对于这些噪音十分敏感。

    当与全自动APx结合时,只需使用一个综合测试序列,便可将生产环境中的驱动轻松地评价为通过/未通过。

     

    瀑布图和极线图


     


    电声测试研发版本为了解电声行为提供强大的可视化工具。
     
    APx 瀑布图绘制3D图表,显示出可体现不同时间及频率下变化的多曲线数据。频谱或累积频谱衰减图(CSD)具有多种FFT长度、片数和各工作示例,可供您选择。
     
    APx极线图显示扬声器和麦克风在平面位置的响应,且支持多张转盘品牌生产整圆、半圆、四分之一圆和定制平面图。 
     
    麦克风指向性测试配套的支持转盘


    • LT360EX
    • ET250-3D
     
    APx500 进行音箱的空气泄漏检测
     


    APx已具备噪音测量将空气泄漏故障模拟成一种加重的白噪音,这种白噪音是通过低频刺激调整而成的,能够准确地检测出因密封不当、插座打开或施工问题导致的外壳泄漏。
     
    空气泄漏会降低扬声器的性能,影响设计参数,发出不和谐的噪音,而这些很难通过标准测试检测出来,通常隐藏在噪音层。
     
    正如紧凑的集成音频产品拉近声压和低音频响应的界限,外壳一体化正逐步演变成难题,这一难题需通过测试以确保质量。已集成于产品的控制和插座是生产无泄漏外壳的难点所在,这就使得APx已调噪音空气泄漏测量成为电声设计者工具包中的必备部分。
     
    APx500 其他声学测量,可消除环境反射带来的音响,无需要在全消音室里面进行测试
     


    APx自动计算所有主要声学响应测量,包括电平、频率响应、相位、失真和群时延。总共返回14项图标测量。此外,APx可同步进行求平均值,并以N倍频平滑化。结果在屏幕上可见,也可打印成PDF的形式或导成表格形式供其他用途。和所有APx测量值一样,声学响应可以是较大测试序列中的一部分,或是受到LabVIEW等外部应用程序的控制。
     
    简单的测试设置
     


    因为外墙壁地板的回音会干扰测量,所以在非消声空间中进行声学测试具有一定难度。和许多有回声的声学测试解决方法一样,APx使用时间门对数扫描测量声学设备的脉冲响应。然而,与其他解决方法不同的是,用于设定时间门的AP界面速度快、操作容易:用户只需拖动脉冲响应图标或能量时间曲线上方的游标,则APx将重新计算所有实时产出的测量。
      
    APx扬声器阻抗设备IMP1


     


    APx IMP1扬声器阻抗设备为连接、测量扬声器驱动器提供多种方式,可选择是否搭配使用外部放大器。IMP1有可供选择的连接拓扑和0.1ohm和1.0 ohm系列的监测电阻,是您测试台上的便捷助推器。
     

    配合APX1701 测试功放接口,更方便的与APX500 系列的音频分析仪进行各种电声产品的测试。

    2016年 AP 公司最新推出的APX1701 电声测试接口,应用于 从微型扬声器到大扬声器的测试。操作简单,多功能,高精度

    欢迎新老客户预约试用。

    APX1701 配合APX500 测试基本接线框图



    APX1701 各种输入 输出接口的介绍

    APX1701 测试头戴耳机的接线框图

    APX1701 测试扬声器 IMD 互调失真接线框图

    AMPLIFIER PERFORMANCE

    Power Ratings

    Voltage Gain

    100 W (1 channel into 8 Ω)

    20.0 dB [x10]

    60 W (1 channel into 4 Ω)


    30 Vrms (2 channels into ≥15 Ω)

    Residual Noise

    Frequency Range

    7.5 µVrms (22 kHz BW)

    DC to 100 kHz

    13 µVrms (80 kHz BW)

    Frequency Response

    Signal-to-Noise Ratio

    ±0.08 dB (10 Hz to 20 kHz, DC-coupled)

    134 dB (ref 30 Vrms output)

    ±0.30 dB (20 kHz to 50 kHz)

    Output Impedance

    ±0.80 dB (50 kHz to 100 kHz)

    0.13 Ω (0.1 Ω current sense resistor in series with the  output terminal)

    MICROPHONE INPUTS

    Residual THD+N

    Configuration

    ≤ –106 dB, 10 Hz to 20 kHz (80 kHz BW)

    Balanced and Unbalanced (2 each)

    Maximum Input

    Balanced Mic Inputs

    10 Vpk Balanced

    2 female XLR

    5 Vpk Unbalanced

    Switchable +48 V phantom power

    Residual Noise

    Unbalanced Mic Inputs

    Determined by analyzer; inputs passively   switched

    2 BNC

    Input Crosstalk

    Switchable CCP (4 mA, +24 V)

    ≤ –80 dB + 1 µV to 20 kHz

    TEDS-capable



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